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      國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空掃描電子顯微鏡的工作原理

      • 更新時(shí)間2025-06-09
      • 點(diǎn)擊次數(shù)122
        國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空掃描電子顯微鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、電子學(xué)等領(lǐng)域的高精度顯微分析工具。它通過(guò)掃描樣品表面并分析反射或發(fā)射出的電子信號(hào),來(lái)得到樣品的形貌、組成、結(jié)構(gòu)等信息。其工作原理主要包括電子束生成、加速、聚焦、掃描、成像以及樣品信號(hào)的收集等步驟。接下來(lái),將詳細(xì)闡述該顯微鏡的工作原理。
        一、電子束生成與加速
        國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空掃描電子顯微鏡的核心部件之一是電子槍。國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空SEM的電子槍通常采用鎢燈絲作為熱電子源。當(dāng)鎢燈絲加熱到足夠高的溫度時(shí),鎢的表面會(huì)釋放電子。這些自由電子在電場(chǎng)作用下被加速并聚集成電子束。加速后的電子束攜帶高能量,可以穿透樣品的表面,或者與樣品表面發(fā)生相互作用。
        二、電子束聚焦與掃描
        加速后的電子束經(jīng)過(guò)磁場(chǎng)的作用被聚焦為一個(gè)非常細(xì)小的點(diǎn)。這一過(guò)程通過(guò)電子透鏡(磁透鏡)來(lái)完成,電子透鏡的功能類似于光學(xué)顯微鏡中的光學(xué)透鏡。聚焦后的電子束將在樣品表面進(jìn)行掃描,電子束通常是按線掃描的方式逐點(diǎn)掃描整個(gè)樣品表面。
       

      國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空掃描電子顯微鏡

       

        三、低真空環(huán)境
        國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空掃描電子顯微鏡的最大特點(diǎn)之一就是可以在較低的真空環(huán)境中工作。低真空環(huán)境的實(shí)現(xiàn)通常是通過(guò)局部真空系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。電子槍區(qū)域和樣品區(qū)域之間通過(guò)抽氣系統(tǒng)維持適度的真空度。通過(guò)這種方法,可以在較低的真空環(huán)境下獲取清晰的圖像,并且不會(huì)損害樣品,尤其適用于觀察生物樣品或一些不耐高真空的樣品。
        四、樣品與電子束相互作用
        當(dāng)電子束掃描樣品表面時(shí),電子束與樣品的表面原子發(fā)生相互作用,產(chǎn)生多種信號(hào)。二次電子是樣品表面的原子吸收電子束后釋放出的低能電子。它們通常具有很低的能量,能夠提供樣品表面的細(xì)節(jié)信息。二次電子是其成像的主要信號(hào),能夠展示樣品的形貌細(xì)節(jié)。
        五、信號(hào)收集與成像
        在樣品表面與電子束相互作用后,二次電子、背散射電子以及X射線等信號(hào)被探測(cè)器收集。二次電子信號(hào)通常由環(huán)形二次電子探測(cè)器收集。背散射電子則通過(guò)背散射電子探測(cè)器進(jìn)行收集。
        國(guó)產(chǎn)鎢燈絲低真空掃描電子顯微鏡通過(guò)電子束的掃描、樣品表面信號(hào)的收集、以及圖像的重建,能夠高效地展示樣品的微觀結(jié)構(gòu)、形貌和成分分析。低真空模式的應(yīng)用使得該設(shè)備能夠在較低真空環(huán)境下進(jìn)行操作,適用于更廣泛的樣品類型,尤其是一些非導(dǎo)電性和生物樣品。

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